GB/T 12963-2014
Silicio policristalino de grado electrónico (Versión en inglés)

Estándar No.
GB/T 12963-2014
Idiomas
Chino, Disponible en inglés
Fecha de publicación
2014
Organización
General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China
Estado
 2023-07
Remplazado por
GB/T 12963-2022
Ultima versión
GB/T 12963-2022
Reemplazar
GB/T 12963-2009
Alcance
Esta norma especifica los requisitos, métodos de prueba, reglas de inspección, marcado, embalaje, transporte, almacenamiento, certificados de calidad y órdenes de compra (o contratos) para el polisilicio. Esta norma se aplica al polisilicio elaborado a partir de clorosilano y silano.

GB/T 12963-2014 Documento de referencia

  • GB/T 13389 Práctica para la conversión entre resistividad y densidad dopante para silicio dopado con boro, fósforo y arsénico
  • GB/T 14264 Materiales semiconductores-Términos y definiciones
  • GB/T 1550 Métodos de prueba para el tipo de conductividad de materiales semiconductores extrínsecos.*， 2018-12-28 Actualizar
  • GB/T 1551 Método de prueba para medir la resistividad del silicio monocristalino: método de sonda de cuatro puntos en línea y método de sonda de dos puntos de corriente continua*， 2021-05-21 Actualizar
  • GB/T 1553 Determinación de la vida útil de los portadores minoritarios en silicio y germanio mediante el método de desintegración de la fotoconductividad*， 2023-08-06 Actualizar
  • GB/T 1557 Método de prueba para determinar el contenido de oxígeno intersticial en silicio mediante absorción infrarroja.*， 2018-09-17 Actualizar
  • GB/T 1558 Método de prueba para determinar el contenido de carbono atómico sustitucional del silicio mediante absorción infrarroja
  • GB/T 24574 Métodos de prueba para el análisis de fotoluminiscencia de silicio monocristalino para impurezas Ⅲ-Ⅴ
  • GB/T 24581 Método de prueba para el contenido de impurezas Ⅲ y Ⅴ en silicio monocristalino: método de análisis FT-IR a baja temperatura*， 2022-03-09 Actualizar
  • GB/T 24582 Determinación del contenido de impurezas metálicas en la superficie de polisilicio mediante espectrometría de masas con plasma acoplado inductivamente y lixiviación ácida.*， 2023-08-06 Actualizar
  • GB/T 4059 Método de prueba para determinar el contenido de fósforo en silicio policristalino mediante el método de fusión por zonas en atmósfera controlada*， 2018-12-28 Actualizar
  • GB/T 4060 Método de prueba para determinar el contenido de boro en silicio policristalino mediante el método de fusión en zona de vacío*， 2018-09-17 Actualizar
  • GB/T 4061 Silicio policristalino-método de examen-evaluación de sándwiches en sección transversal por corrosión química

GB/T 12963-2014 Historia



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