GB/T 17473.7-2008
Método de prueba de pastas de metales preciosos utilizadas para microelectrónica. Determinación de soldabilidad y resistencia al relajamiento de la soldadura. (Versión en inglés)

Estándar No.
GB/T 17473.7-2008
Idiomas
Chino, Disponible en inglés
Fecha de publicación
2008
Organización
General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China
Estado
 2022-10
Remplazado por
GB/T 17473.7-2022
Ultima versión
GB/T 17473.7-2022
Reemplazar
GB/T 17473.7-1998
Alcance
Esta parte especifica los métodos de determinación de la soldabilidad y la resistencia a la soldadura de pastas soldables de metales preciosos para tecnología microelectrónica. Esta parte es aplicable a la determinación de la soldabilidad y resistencia de la soldadura de pastas soldables de metales preciosos para tecnología microelectrónica.

GB/T 17473.7-2008 Historia

  • 2022 GB/T 17473.7-2022 Métodos de prueba de pastas de metales preciosos utilizados para microelectrónica. Parte 7: Determinación de la soldabilidad y la resistencia a la lixiviación de la soldadura.
  • 2008 GB/T 17473.7-2008 Método de prueba de pastas de metales preciosos utilizadas para microelectrónica. Determinación de soldabilidad y resistencia al relajamiento de la soldadura.
  • 1998 GB/T 17473.7-1998 Métodos de prueba de pastas de metales preciosos utilizadas para microelectrónica de película gruesa: prueba de soldabilidad y resistencia a la lixiviación de soldadura.

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