GB/T 17473.7-2008 Método de prueba de pastas de metales preciosos utilizadas para microelectrónica. Determinación de soldabilidad y resistencia al relajamiento de la soldadura. (Versión en inglés)
Esta parte especifica los métodos de determinación de la soldabilidad y la resistencia a la soldadura de pastas soldables de metales preciosos para tecnología microelectrónica. Esta parte es aplicable a la determinación de la soldabilidad y resistencia de la soldadura de pastas soldables de metales preciosos para tecnología microelectrónica.
GB/T 17473.7-2008 Historia
2022GB/T 17473.7-2022 Métodos de prueba de pastas de metales preciosos utilizados para microelectrónica. Parte 7: Determinación de la soldabilidad y la resistencia a la lixiviación de la soldadura.
2008GB/T 17473.7-2008 Método de prueba de pastas de metales preciosos utilizadas para microelectrónica. Determinación de soldabilidad y resistencia al relajamiento de la soldadura.
1998GB/T 17473.7-1998 Métodos de prueba de pastas de metales preciosos utilizadas para microelectrónica de película gruesa: prueba de soldabilidad y resistencia a la lixiviación de soldadura.