GB/T 17473.1-2008
Método de prueba de pastas de metales preciosos utilizadas para microelectrónica. Determinación del contenido de sólidos. (Versión en inglés)

Estándar No.

GB/T 17473.1-2008

Idiomas

Chino, Disponible en inglés

Fecha de publicación

2008

Organización

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China

Ultima versión

GB/T 17473.1-2008

Reemplazar

GB/T 17473.1-1998

Alcance

Esta parte especifica el método de prueba para el contenido de sólidos en lodos de metales preciosos para tecnología microelectrónica. Esta sección se aplica a la determinación del contenido sólido de pastas de metales preciosos para diversas tecnologías de microelectrónica sinterizada y curada.

GB/T 17473.1-2008 Documento de referencia

• GB/T 8170 Reglas de redondeo para valores numéricos y expresión y juicio de valores límite*， 2008-07-16 Actualizar

GB/T 17473.1-2008 Historia

• 2008 GB/T 17473.1-2008 Método de prueba de pastas de metales preciosos utilizadas para microelectrónica. Determinación del contenido de sólidos.
• 1998 GB/T 17473.1-1998 Métodos de prueba de pastas de metales preciosos utilizados para microelectrónica de película gruesa. Determinación del contenido de sólidos.

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