GB/T 17473.2-2008
Método de prueba de pastas de metales preciosos utilizadas para microelectrónica. Determinación de finura (Versión en inglés)
- Estándar No.
- GB/T 17473.2-2008
- Idiomas
- Chino, Disponible en inglés
- Fecha de publicación
- 2008
- Organización
- General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China
- Ultima versión
- GB/T 17473.2-2008
- Reemplazar
- GB/T 17473.2-1998
- Alcance
- Esta parte especifica el método de determinación con raspador para la finura de las pastas de metales preciosos utilizadas en la tecnología microelectrónica. Esta sección se aplica a la determinación de la finura de las pastas de metales preciosos utilizadas en la tecnología microelectrónica.
GB/T 17473.2-2008 Documento de referencia
- GB/T 8170 Reglas de redondeo para valores numéricos y expresión y juicio de valores límite*， 2008-07-16 Actualizar
GB/T 17473.2-2008 Historia
- 2008 GB/T 17473.2-2008 Método de prueba de pastas de metales preciosos utilizadas para microelectrónica. Determinación de finura
- 1998 GB/T 17473.2-1998 Métodos de prueba de pastas de metales preciosos utilizados para microelectrónica de película gruesa. Determinación de la finura.
GB/T 17473.2-2008 - Все части
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