Esta parte especifica el método de prueba para la adhesión de pastas de metales preciosos para microelectrónica. Esta sección se aplica a la determinación de la adhesión de pastas de metales preciosos utilizadas en microelectrónica.
GB/T 17473.4-2008 Documento de referencia
GB/T 8170 Reglas de redondeo para valores numéricos y expresión y juicio de valores límite*, 2008-07-16 Actualizar
GB/T 17473.4-2008 Historia
2008GB/T 17473.4-2008 Métodos de prueba de pastas de metales preciosos utilizados para microelectrónica. Determinación de la adhesión.
1998GB/T 17473.4-1998 Métodos de prueba de pastas de metales preciosos utilizadas para microelectrónica de película gruesa. Determinación de la adhesión.