GB/T 17473.3-2008 Método de prueba de pastas de metales preciosos utilizadas para microelectrónica. Determinación de la resistencia de las láminas. (Versión en inglés)
Esta parte especifica el método para la determinación de la resistencia cuadrática de pastas de metales preciosos utilizadas en tecnología microelectrónica. Esta sección se aplica a la determinación de la resistencia cuadrática de pastas de metales preciosos utilizadas en tecnología microelectrónica.
GB/T 17473.3-2008 Documento de referencia
GB/T 8170 Reglas de redondeo para valores numéricos y expresión y juicio de valores límite*, 2008-07-16 Actualizar
GB/T 17473.3-2008 Historia
2008GB/T 17473.3-2008 Método de prueba de pastas de metales preciosos utilizadas para microelectrónica. Determinación de la resistencia de las láminas.
1998GB/T 17473.3-1998 Métodos de prueba de pastas de metales preciosos utilizados para microelectrónica de película gruesa. Determinación de la resistencia de las láminas.