GB/T 17473.2-1998
Métodos de prueba de pastas de metales preciosos utilizados para microelectrónica de película gruesa. Determinación de la finura. (Versión en inglés)

Estándar No.
GB/T 17473.2-1998
Idiomas
Chino, Disponible en inglés
Fecha de publicación
1998
Organización
General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China
Estado
 2008-09
Remplazado por
GB/T 17473.2-2008
Ultima versión
GB/T 17473.2-2008
Alcance
Esta norma especifica el método de prueba con raspador para determinar la finura de las pastas de metales preciosos. Esta norma se aplica a la determinación de la finura de la pasta de metales preciosos. También se puede utilizar como referencia la medida de finura de la pasta de metales no preciosos.

GB/T 17473.2-1998 Historia

  • 2008 GB/T 17473.2-2008 Método de prueba de pastas de metales preciosos utilizadas para microelectrónica. Determinación de finura
  • 1998 GB/T 17473.2-1998 Métodos de prueba de pastas de metales preciosos utilizados para microelectrónica de película gruesa. Determinación de la finura.

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