KS C IEC 60749-2004(2020)
Dispositivos semiconductores-Métodos de prueba mecánicos y climáticos.
Inicio
KS C IEC 60749-2004(2020)
Estándar No.
KS C IEC 60749-2004(2020)
Fecha de publicación
2004
Organización
Korean Agency for Technology and Standards (KATS)
Estado
Remplazado por
KS C IEC 60749-8-2006(2021)
Ultima versión
KS C IEC 60749-34-2017(2022)
KS C IEC 60749-2004(2020) Historia
0000
KS C IEC 60749-34-2017(2022)
0000
KS C IEC 60749-8-2006(2021)
2020
KS C IEC 60749-9:2020
Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 9: Permanencia del marcado.
2019
KS C IEC 60749-3:2019
Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 3: Examen visual externo.
2017
KS C IEC 60749-34:2017
Dispositivos semiconductores -Métodos de prueba mecánicos y climáticos -Parte 34: Ciclos de energía
0000
KS C IEC 60749-8-2006(2016)
2006
KS C IEC 60749-8:2006
Dispositivos semiconductores-Métodos de prueba mecánicos y climáticos-Parte 8: Sellado
2005
KS C IEC 60749-21:2005
Dispositivos semiconductores-Métodos de prueba mecánicos y climáticos- Parte 21: Soldabilidad
2004
KS C IEC 60749:2004
Dispositivos semiconductores-Métodos de prueba mecánicos y climáticos.
2003
KS C IEC 60749-9:2003
Dispositivos semiconductores-Métodos de prueba mecánicos y climáticos-Parte 9:Permanencia del marcado
2002
KS C IEC 60749-3:2002
Dispositivos semiconductores discretos-Métodos de prueba mecánicos y climáticos-Parte 3:Examen visual externo
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