KS C IEC 60749-3:2019
Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 3: Examen visual externo.
Inicio
KS C IEC 60749-3:2019
Estándar No.
KS C IEC 60749-3:2019
Fecha de publicación
2019
Organización
Korean Agency for Technology and Standards (KATS)
Estado
Remplazado por
KS C IEC 60749-3:2021
Ultima versión
KS C IEC 60749-3:2021
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2021
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KS C IEC 60749-3:2002
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