KS C IEC 60749-3:2002
Dispositivos semiconductores discretos－Métodos de prueba mecánicos y climáticos－Parte 3:Examen visual externo

Estándar No.

KS C IEC 60749-3:2002

Fecha de publicación

2002

Organización

Korean Agency for Technology and Standards (KATS)

Estado

Remplazado por

KS C IEC 60749-3:2019

Ultima versión

KS C IEC 60749-3:2021

Alcance

Esta norma especifica los materiales, diseño, estructura, marcado y operaciones de acabado aplicables a los dispositivos semiconductores.

KS C IEC 60749-3:2002 Historia

• 2021 KS C IEC 60749-3:2021 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 3: Examen visual externo.
• 2019 KS C IEC 60749-3:2019 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 3: Examen visual externo.
• 2002 KS C IEC 60749-3:2002 Dispositivos semiconductores discretos－Métodos de prueba mecánicos y climáticos－Parte 3:Examen visual externo