KS C IEC 60749-9:2020
Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 9: Permanencia del marcado.
Inicio
KS C IEC 60749-9:2020
Estándar No.
KS C IEC 60749-9:2020
Fecha de publicación
2020
Organización
Korean Agency for Technology and Standards (KATS)
Ultima versión
KS C IEC 60749-9:2020
KS C IEC 60749-9:2020 Historia
2020
KS C IEC 60749-9:2020
Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 9: Permanencia del marcado.
2003
KS C IEC 60749-9:2003
Dispositivos semiconductores-Métodos de prueba mecánicos y climáticos-Parte 9:Permanencia del marcado
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