KS C IEC 60749-8-2006(2021)
Dispositivos semiconductores－Métodos de prueba mecánicos y climáticos－Parte 8: Sellado

Estándar No.

KS C IEC 60749-8-2006(2021)

Fecha de publicación

2006

Organización

Korean Agency for Technology and Standards (KATS)

Ultima versión

KS C IEC 60749-8-2006(2021)

KS C IEC 60749-8-2006(2021) Historia

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