ASTM E2735-14(2020)
Guía estándar para la selección de calibraciones necesarias para experimentos de espectroscopia fotoelectrónica de rayos X (XPS)

Estándar No.

ASTM E2735-14(2020)

Fecha de publicación

2020

Organización

American Society for Testing and Materials (ASTM)

Ultima versión

ASTM E2735-14(2020)

Alcance

1.1 Esta guía describe un enfoque que permite a los usuarios y analistas determinar las calibraciones y estándares útiles para obtener datos significativos de química de superficies con espectroscopía de fotoelectrones de rayos X (XPS) y optimizar el instrumento para objetivos de análisis específicos y tiempo de recopilación de datos. 1.2 Esta guía ofrece una colección organizada de información o una serie de opciones y no recomienda un curso de acción específico. Esta guía no puede reemplazar la educación o la experiencia y debe utilizarse junto con el criterio profesional. No todos los aspectos de esta guía serán aplicables en todas las circunstancias. 1.3 Los valores indicados en unidades SI deben considerarse estándar. No se incluyen otras unidades de medida en esta norma. 1.4 Este estándar no pretende representar ni reemplazar el estándar de cuidado por el cual se debe juzgar la idoneidad de un servicio profesional determinado, ni este documento debe aplicarse sin considerar los muchos aspectos únicos de un proyecto. La palabra "Estándar" en el título de este documento significa únicamente que el documento ha sido aprobado mediante el proceso de consenso de ASTM. 1.5 Esta norma no pretende abordar todos los problemas de seguridad, si los hay, asociados con su uso. Es responsabilidad del usuario de esta norma establecer prácticas apropiadas de seguridad, salud y medio ambiente y determinar la aplicabilidad de las limitaciones reglamentarias antes de su uso. 1.6 Esta norma internacional fue desarrollada de acuerdo con los principios internacionalmente reconocidos sobre estandarización establecidos en la Decisión sobre Principios para el Desarrollo de Normas, Guías y Recomendaciones Internacionales emitida por el Comité de Obstáculos Técnicos al Comercio (OTC) de la Organización Mundial del Comercio.

ASTM E2735-14(2020) Documento de referencia

• ASTM E1078 Guía estándar de procedimientos para la preparación y montaje de muestras en análisis de superficies
• ASTM E1127 Guía estándar para perfiles de profundidad en espectroscopía electrónica de Auger
• ASTM E1217 Práctica estándar para la determinación del área de la muestra que contribuye a la señal detectada en espectrómetros de electrones de barrena y algunos espectrómetros de fotoelectrones de rayos X
• ASTM E1523 Guía estándar para técnicas de control de carga y referencia de carga en espectroscopia de fotoelectrones de rayos X
• ASTM E1577 Guía estándar para la generación de informes de los parámetros del haz de iones utilizados en el análisis de superficies
• ASTM E1634 Guía estándar para realizar mediciones de profundidad de cráteres de pulverización catódica
• ASTM E1636 Práctica estándar para describir analíticamente datos de interfaz de perfil de profundidad de pulverización mediante una función logística extendida
• ASTM E1829 Guía estándar para el manejo de muestras antes del análisis de superficie
• ASTM E2108 Práctica estándar para la calibración de la escala de energía de unión de electrones de un espectrómetro de fotoelectrones de rayos X
• ASTM E995 Guía estándar para técnicas de sustracción de fondo en espectroscopía de fotoelectrones de rayos X y electrones Auger
• ASTM E996 Práctica estándar para informar datos en espectroscopia de electrones de Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X
• ISO 10810 Análisis químico de superficies. Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X. Directrices para el análisis.
• ISO 14606 Análisis químico de superficies. Perfilado de profundidad de pulverización. Optimización utilizando sistemas en capas como materiales de referencia.*， 2022-11-21 Actualizar
• ISO 14701 Análisis químico de superficies. Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X. Medición del espesor del óxido de silicio.
• ISO 14976 Corrigendum técnico 1 del formato de transferencia de datos del análisis químico de superficies
• ISO 15470 Análisis químico de superficies - Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X - Descripción de parámetros de rendimiento instrumental seleccionados
• ISO 15472 Análisis químico de superficies - Espectrómetros de fotoelectrones de rayos X - Calibración de escalas de energía
• ISO 18115-1 Análisis químico de superficies. Vocabulario. Parte 1: Términos generales y términos utilizados en espectroscopia.*， 2023-06-01 Actualizar
• ISO 18115-2 Análisis químico de superficies. Vocabulario. Parte 2: Términos utilizados en microscopía de sonda de barrido.*， 2021-12-21 Actualizar
• ISO 18116 Análisis químico de superficies: directrices para la preparación y montaje de muestras para análisis.
• ISO 18117 Análisis químico de superficies: manipulación de muestras antes del análisis.
• ISO 18118 
• ISO 18516 Análisis químico de superficies: determinación de la resolución lateral y la nitidez en métodos basados en haces con un rango de nanómetros a micrómetros.
• ISO 19318 Análisis químico de superficies - Espectroscopía de fotoelectrones de rayos X - Informes de métodos utilizados para el control y la corrección de carga*， 2021-05-31 Actualizar
• ISO 20903 Análisis químico de superficies. Espectroscopia de electrones Auger y espectroscopia de fotoelectrones de rayos X. Métodos utilizados para determinar las intensidades máximas y la información requerida al informar los resultados.
• ISO 21270 Análisis químico de superficies - Espectrómetros de fotoelectrones de rayos X y electrones Auger - Linealidad de la escala de intensidad
• ISO 24237 Análisis químico de superficies - Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X - Escala de repetibilidad y constancia de intensidad
• ISO/TR 15969 Análisis químico de superficies. Perfilado de profundidad. Medición de la profundidad de pulverización catódica.*， 2021-03-17 Actualizar
• ISO/TR 18392 Análisis químico de superficies - Espectroscopia fotoelectrónica de rayos X - Procedimientos para la determinación de fondos
• ISO/TR 19319 Análisis químico de superficies: enfoques fundamentales para la determinación de la resolución lateral y la nitidez en métodos basados en haces

ASTM E2735-14(2020) Historia

• 2020 ASTM E2735-14(2020) Guía estándar para la selección de calibraciones necesarias para experimentos de espectroscopia fotoelectrónica de rayos X (XPS)
• 2014 ASTM E2735-14 Guía estándar para la selección de calibraciones necesarias para espectroscopía fotoelectrónica de rayos X 40;XPS41; experimentos
• 2013 ASTM E2735-13 Guía estándar para la selección de calibraciones necesarias para experimentos de espectroscopia fotoelectrónica de rayos X (XPS)