1.1 Esta guía cubre la familiarización del usuario de XPS con las diversas técnicas de control de carga y referencia de desplazamiento de carga que se utilizan y se han utilizado en la adquisición e interpretación de datos de espectroscopía de fotoelectrones de rayos X (XPS) de superficies de muestras aislantes. 1.2 Esta guía está destinada a aplicarse a las técnicas de control de carga y referencia de carga en XPS y no es necesariamente aplicable a sistemas excitados por electrones. 1.3 Las unidades SI son estándar a menos que se indique lo contrario. 1.4 Esta norma no pretende abordar todos los problemas de seguridad, si los hay, asociados con su uso. Es responsabilidad del usuario de esta norma establecer prácticas apropiadas de seguridad y salud y determinar la aplicabilidad de las limitaciones reglamentarias antes de su uso.