ISO 21270:2004 Análisis químico de superficies - Espectrómetros de fotoelectrones de rayos X y electrones Auger - Linealidad de la escala de intensidad normas y especificaciones

Alcance: Este estándar especifica dos métodos para determinar la tasa de conteo máxima de las escalas de intensidad de los espectrómetros AES y XPS dentro de los límites de dispersión lineal permitidos. También incluye métodos para corregir la no linealidad de la intensidad, de modo que se puedan utilizar tasas de conteo máximas más altas para aquellos espectrómetros para los cuales las fórmulas de corrección asociadas han demostrado ser efectivas.

ISO 21270:2004 Documento de referencia

ISO 18115 Análisis químico de superficies - Vocabulario; Enmienda 2*， 2007-12-01 Actualizar

2004 ISO 21270:2004 Análisis químico de superficies - Espectrómetros de fotoelectrones de rayos X y electrones Auger - Linealidad de la escala de intensidad