1.1 Esta guía cubre el manejo y la preparación de muestras antes del análisis de superficies y se aplica a las siguientes disciplinas de análisis de superficies: 1.1.1 Espectroscopia de electrones Auger (AES), 1.1.2 Espectroscopia de fotoelectrones de rayos X (XPS o ESCA) y 1.1.3 Iones secundarios. espectrometría de masas, SIMS.1.1.4 Aunque están escritos principalmente para AES, XPS y SIMS, estos métodos también pueden aplicarse a muchos métodos de análisis sensibles a superficies, como la espectrometría de dispersión de iones, la difracción de electrones de baja energía y la espectroscopia de pérdida de energía de electrones. donde la manipulación de muestras puede influir en las mediciones sensibles a la superficie. 1.2 Esta norma no pretende abordar todos los problemas de seguridad, si los hay, asociados con su uso. Es responsabilidad del usuario de esta norma establecer prácticas apropiadas de seguridad y salud y determinar la aplicabilidad de las limitaciones reglamentarias antes de su uso.
ASTM E1829-97 Historia
2020ASTM E1829-14(2020) Guía estándar para el manejo de muestras antes del análisis de superficie