DIN 32567-3:2014
Equipos de producción para microsistemas. Determinación de la influencia de los materiales en la metrología dimensional óptica y táctil. Parte 3: Derivación de valores de corrección para dispositivos de medición táctiles.

Estándar No.
DIN 32567-3:2014
Fecha de publicación
2014
Organización
German Institute for Standardization
Estado
Remplazado por
DIN 32567-3:2014-10
Ultima versión
DIN 32567-3:2014-10
Reemplazar
DIN 32567-3:2012

DIN 32567-3:2014 Documento de referencia

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  • DIN EN ISO 25178-601:2011 
  • DIN EN ISO 3274:1998 Especificaciones geométricas de productos (GPS) - Textura de la superficie: Método del perfil - Características nominales de los instrumentos de contacto (stylus) (ISO 3274:1996); Versión alemana EN ISO 3274:1997
  • DIN EN ISO 5436-1:2000 Especificaciones Geométricas de Producto (GPS) - Textura de la superficie: Método del perfil; Normas de medición - Parte 1: Medidas de materiales (ISO 5436-1:2000); Versión alemana EN ISO 5436-1:2000
  • VDI/VDE 2617 Blatt 12.1-2011 Precisión de máquinas de medición por coordenadas - Características y su verificación - Ensayos de aceptación y reverificación de microgeometrías de medición de MMC táctiles
  • VDI/VDE 2629 Blatt 1-2008 Precisión de los sistemas de medición de contornos - Características y verificación de características - Pruebas de aceptación y pruebas de reverificación de sistemas de medición de contornos según el método del lápiz táctil
  • VDI/VDE 2655 Blatt 1.2-2010 Medición óptica de microtopografía: calibración de microscopios confocales y estándares de ajuste de profundidad para la medición de rugosidad.
  • VDI/VDE 2656 Blatt 1-2008 Determinación de cantidades geométricas mediante el uso de microscopios de sonda de barrido - Calibración de sistemas de medición

DIN 32567-3:2014 Historia

  • 2014 DIN 32567-3:2014-10 Equipos de producción para microsistemas. Determinación de la influencia de los materiales en la metrología dimensional óptica y táctil. Parte 3: Derivación de valores de corrección para dispositivos de medición táctiles.
  • 2014 DIN 32567-3:2014 Equipos de producción para microsistemas. Determinación de la influencia de los materiales en la metrología dimensional óptica y táctil. Parte 3: Derivación de valores de corrección para dispositivos de medición táctiles.
  • 1970 DIN 32567-3 E:2012-07
  • 0000 DIN 32567-3:2012



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