DIN 32567-3:2014-10 Equipos de producción para microsistemas. Determinación de la influencia de los materiales en la metrología dimensional óptica y táctil. Parte 3: Derivación de valores de corrección para dispositivos de medición táctiles.
2014DIN 32567-3:2014-10 Equipos de producción para microsistemas. Determinación de la influencia de los materiales en la metrología dimensional óptica y táctil. Parte 3: Derivación de valores de corrección para dispositivos de medición táctiles.
2014DIN 32567-3:2014 Equipos de producción para microsistemas. Determinación de la influencia de los materiales en la metrología dimensional óptica y táctil. Parte 3: Derivación de valores de corrección para dispositivos de medición táctiles.