DIN 32567-3 E:2012-07
Equipos de fabricación para microsistemas. Determinación de las influencias de los materiales en la tecnología de medición dimensional óptica y táctil. Parte 3: Derivación de valores de corrección para dispositivos de medición táctiles.

Estándar No.
DIN 32567-3 E:2012-07
Fecha de publicación
1970
Organización
/
Estado
Remplazado por
DIN 32567-3:2014
Ultima versión
DIN 32567-3:2014-10

DIN 32567-3 E:2012-07 Historia

  • 2014 DIN 32567-3:2014-10 Equipos de producción para microsistemas. Determinación de la influencia de los materiales en la metrología dimensional óptica y táctil. Parte 3: Derivación de valores de corrección para dispositivos de medición táctiles.
  • 2014 DIN 32567-3:2014 Equipos de producción para microsistemas. Determinación de la influencia de los materiales en la metrología dimensional óptica y táctil. Parte 3: Derivación de valores de corrección para dispositivos de medición táctiles.
  • 1970 DIN 32567-3 E:2012-07 Equipos de fabricación para microsistemas. Determinación de las influencias de los materiales en la tecnología de medición dimensional óptica y táctil. Parte 3: Derivación de valores de corrección para dispositivos de medición táctiles.
Equipos de fabricación para microsistemas. Determinación de las influencias de los materiales en la tecnología de medición dimensional óptica y táctil. Parte 3: Derivación de valores de corrección para dispositivos de medición táctiles.



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