VDI/VDE 2655 Blatt 1.2-2010
Medición óptica de microtopografía: calibración de microscopios confocales y estándares de ajuste de profundidad para la medición de rugosidad.
- Estándar No.
- VDI/VDE 2655 Blatt 1.2-2010
- Fecha de publicación
- 2010
- Organización
- Association of German Mechanical Engineers
- Ultima versión
- VDI/VDE 2655 Blatt 1.2-2010
- Alcance
- La directriz describe los procedimientos para la calibración de microscopios confocales y los estándares de ajuste de profundidad para la medición de rugosidad y establece así los fundamentos para la trazabilidad de los sistemas de medición según los estándares nacionales. Primero se describe el procedimiento de determinación de las capacidades de calibración. Se especifican otras condiciones básicas para la calibración, así como requisitos mínimos para el procedimiento de calibración. Finalmente se especifican los requisitos al informe de calibración. Un modelo conforme GUM para la determinación de la incertidumbre de medición completa las instrucciones.
VDI/VDE 2655 Blatt 1.2-2010 Historia
- 2010 VDI/VDE 2655 Blatt 1.2-2010 Medición óptica de microtopografía: calibración de microscopios confocales y estándares de ajuste de profundidad para la medición de rugosidad.
- 2009 VDI/VDE 2655 Blatt 1.2-2009 Medición óptica de microtopografía: calibración de microscopios confocales y estándares de ajuste de profundidad para mediciones de rugosidad.
