General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China
Ultima versión
GB/T 30858-2014
Alcance
Esta norma especifica los requisitos, métodos de prueba, reglas de inspección, marcado, embalaje, transporte, almacenamiento, certificado de calidad y contenido de la orden de compra (o contrato) de los sustratos monocristalinos de zafiro pulido. Esta norma se aplica a sustratos de zafiro pulidos por una cara (en lo sucesivo, sustratos de zafiro).
GB/T 30858-2014 Documento de referencia
GB/T 1031 Especificaciones geométricas del producto (GPS). Textura de la superficie: método del perfil. Parámetros de rugosidad de la superficie y sus valores.
GB/T 13387 Método de prueba para medir obleas de silicio y otros materiales electrónicos de longitud plana.
GB/T 14140 Método de prueba para medir el diámetro de una oblea semiconductora.
GB/T 14264 Materiales semiconductores-Términos y definiciones
GB/T 1555 Método para determinar la orientación cristalina de un monocristal semiconductor*, 2023-08-06 Actualizar
GB/T 19921 Método de prueba para partículas en superficies de obleas de silicio pulidas.*, 2018-12-28 Actualizar
GB/T 2828.1 Procedimiento de inspección por muestreo de conteo, parte 1: Plan de muestreo de inspección lote por lote recuperado por el límite de calidad de aceptación (AQL)
GB/T 30857 Método de prueba estándar para espesor y variación de espesor en sustratos de zafiro
GB/T 6619 Método de prueba para el arco de obleas de silicio.
GB/T 6620 Método de prueba para medir la deformación en rodajas de silicio mediante escaneo sin contacto
GB/T 6624 Método estándar para medir la calidad superficial de láminas de silicio pulidas mediante inspección visual
GB/T 30858-2014 Historia
2014GB/T 30858-2014 Producto de sustrato de zafiro monocristalino pulido