ASTM F1893-11
Guía para medir la supervivencia y el desgaste de la tasa de dosis ionizantes de dispositivos semiconductores

Estándar No.

ASTM F1893-11

Fecha de publicación

2011

Organización

American Society for Testing and Materials (ASTM)

Estado

Remplazado por

ASTM F1893-18

Ultima versión

ASTM F1893-18

Alcance

En esta guía se aborda el uso de fuentes de radiación FXR o LINAC para la determinación del desgaste de alta tasa de dosis en dispositivos semiconductores. El objetivo de esta guía es proporcionar un enfoque sistemático para probar dispositivos semiconductores en busca de agotamiento o capacidad de supervivencia. Los diferentes tipos de modos de falla posibles se definen y analizan en esta guía. Específicamente, la falla puede definirse por un cambio en los parámetros del dispositivo o por una falla catastrófica del dispositivo. Esta guía se puede utilizar para determinar si un dispositivo sobrevive (es decir, continúa funcionando y funcionando dentro de los parámetros de rendimiento especificados) cuando se irradia a un nivel de tasa de dosis predeterminado; o bien, la guía se puede utilizar para determinar el nivel de falla por agotamiento de la tasa de dosis (es decir, la tasa de dosis mínima a la que ocurre la falla por agotamiento). Sin embargo, dado que esta última prueba es destructiva, el nivel mínimo de falla por quemado de tasa de dosis debe determinarse estadísticamente.1.1 Esta guía define los requisitos detallados para probar dispositivos semiconductores para determinar la capacidad de supervivencia y falla por quemadura inducida por ionización de tasa de dosis alta de pulso corto. La instalación de prueba deberá ser capaz de proporcionar las tasas de dosis necesarias para realizar las mediciones. Por lo general, se utilizan grandes máquinas de rayos X flash (FXR) operadas en modo de fotones, o instalaciones de haz electrónico FXR debido a sus capacidades de alta tasa de dosis. Se pueden utilizar aceleradores lineales de electrones (LINAC) si la tasa de dosis es suficiente. Se describen dos modos de prueba: (1) una prueba de supervivencia y (2) una prueba de nivel de falla por agotamiento. 1.2 Los valores indicados en el Sistema Internacional de Unidades (SI) deben considerarse estándar. No se incluyen otras unidades de medida en esta norma.

ASTM F1893-11 Documento de referencia

• ASTM E170 Terminología estándar relacionada con las mediciones de radiación y la dosimetría
• ASTM E1894 Guía estándar para seleccionar sistemas de dosimetría para su aplicación en fuentes de rayos X pulsados
• ASTM E668 Práctica estándar para la aplicación de sistemas de termoluminiscencia-dosimetría (TLD) para determinar la dosis absorbida en pruebas de dureza por radiación de dispositivos electrónicos
• ASTM F526 Método de prueba estándar para medir la dosis para uso en pruebas de efectos de radiación pulsada de acelerador lineal

ASTM F1893-11 Historia

• 2018 ASTM F1893-18 Guía para medir la supervivencia y el desgaste de la tasa de dosis ionizantes de dispositivos semiconductores
• 2011 ASTM F1893-11 Guía para medir la supervivencia y el desgaste de la tasa de dosis ionizantes de dispositivos semiconductores
• 1998 ASTM F1893-98(2003) Guía para la medición del desgaste de la tasa de dosis ionizante de dispositivos semiconductores
• 1998 ASTM F1893-98 Guía para la medición del desgaste de la tasa de dosis ionizante de dispositivos semiconductores