Las instalaciones de rayos X flash proporcionan entornos de radiación de bremsstrahlung intensos, generalmente en un solo pulso de menos de un microsegundo, que desafortunadamente a menudo fluctúa en amplitud, forma y espectro de un disparo a otro. Por lo tanto, se debe realizar una dosimetría adecuada en cada exposición para caracterizar el medio ambiente. Estas intensas fuentes de bremsstrahlung tienen una variedad de aplicaciones que incluyen las siguientes: 5.1.1 Generación de entornos de rayos X y gamma similares a los de la explosión de un arma nuclear. 5.1.2 Estudios de los efectos de los rayos X–y los rayos gamma sobre los materiales. 5.1.3 Estudios de los efectos de la radiación en dispositivos electrónicos como transistores, diodos y condensadores. 5.1.4 Pruebas de vulnerabilidad y supervivencia de sistemas y componentes militares. 5.1.5 Estudios de validación de códigos informáticos. Esta guía está escrita para ayudar al experimentador a seleccionar los sistemas de dosimetría necesarios (a menudo en un experimento no se deben medir todos los parámetros de radiación) para su uso en instalaciones de rayos X pulsados. Esta guía también proporciona un breve resumen de la información sobre cómo utilizar cada uno de los sistemas dosimétricos. Otras guías (ver Sección 3) brindan información más detallada sobre sistemas dosimétricos seleccionados en ambientes de radiación y deben consultarse después de tomar una decisión inicial sobre el sistema dosimétrico apropiado a utilizar. Hay muchos parámetros clave que describen una fuente de rayos X flash, como dosis, tasa de dosis, espectro, ancho de pulso, etc., de modo que normalmente ningún sistema dosimétrico puede medir todos los parámetros simultáneamente.1.1 Esta guía proporciona ayuda para seleccionar y el uso de sistemas de dosimetría en experimentos de rayos X flash. Se describen tanto las técnicas de dosis como las de tasa de dosis. 1.2 Se dan las características operativas de las fuentes de rayos X de destello, con énfasis en el espectro de la salida de fotones. 1.3 Se proporciona asistencia para relacionar la dosis medida con la respuesta de un dispositivo bajo prueba ( DUT). Se supone que el dispositivo es una pieza o sistema electrónico semiconductor.
ASTM E1894-97(2002) Historia
2018ASTM E1894-18 Guía estándar para seleccionar sistemas de dosimetría para su aplicación en fuentes de rayos X pulsados
2013ASTM E1894-13a Guía estándar para seleccionar sistemas de dosimetría para su aplicación en fuentes de rayos X pulsados
2013ASTM E1894-13 Guía estándar para seleccionar sistemas de dosimetría para su aplicación en fuentes de rayos X pulsados
2008ASTM E1894-08 Guía estándar para seleccionar sistemas de dosimetría para su aplicación en fuentes de rayos X pulsados
1997ASTM E1894-97(2002) Guía estándar para seleccionar sistemas de dosimetría para su aplicación en fuentes de rayos X pulsados
1997ASTM E1894-97 Guía estándar para seleccionar sistemas de dosimetría para su aplicación en fuentes de rayos X pulsados