ASTM F1893-18 Guía para medir la supervivencia y el desgaste de la tasa de dosis ionizantes de dispositivos semiconductores normas y especificaciones

Alcance: 1.1 Esta guía define los requisitos detallados para probar dispositivos semiconductores para determinar la capacidad de supervivencia y el fallo por quemado inducidos por la ionización de alta tasa de dosis de pulso corto. La instalación de prueba deberá ser capaz de proporcionar las tasas de dosis necesarias para realizar las mediciones. Por lo general, se utilizan grandes máquinas de rayos X flash (FXR) operadas en modo de fotones, o instalaciones de haz electrónico FXR debido a sus capacidades de alta tasa de dosis. Se pueden utilizar aceleradores lineales de electrones (LINAC) si la tasa de dosis es suficiente. Se describen dos modos de prueba: (1) una prueba de supervivencia y (2) una prueba de nivel de falla por agotamiento. 1.2 Los valores indicados en el Sistema Internacional de Unidades (SI) deben considerarse estándar. No se incluyen otras unidades de medida en esta norma. 1.3 Esta norma internacional fue desarrollada de acuerdo con los principios internacionalmente reconocidos sobre estandarización establecidos en la Decisión sobre Principios para el Desarrollo de Normas, Guías y Recomendaciones Internacionales emitida por el Comité de Obstáculos Técnicos al Comercio (OTC) de la Organización Mundial del Comercio.

ASTM F1893-18 Documento de referencia

ASTM E170 Terminología estándar relacionada con las mediciones de radiación y la dosimetría
ASTM E1894 Guía estándar para seleccionar sistemas de dosimetría para su aplicación en fuentes de rayos X pulsados
ASTM E668 Práctica estándar para la aplicación de sistemas de termoluminiscencia-dosimetría (TLD) para determinar la dosis absorbida en pruebas de dureza por radiación de dispositivos electrónicos*， 2020-07-01 Actualizar
ASTM F526 Método de prueba estándar para medir la dosis para uso en pruebas de efectos de radiación pulsada de acelerador lineal

2018 ASTM F1893-18 Guía para medir la supervivencia y el desgaste de la tasa de dosis ionizantes de dispositivos semiconductores
2011 ASTM F1893-11 Guía para medir la supervivencia y el desgaste de la tasa de dosis ionizantes de dispositivos semiconductores
1998 ASTM F1893-98(2003) Guía para la medición del desgaste de la tasa de dosis ionizante de dispositivos semiconductores
1998 ASTM F1893-98 Guía para la medición del desgaste de la tasa de dosis ionizante de dispositivos semiconductores