IEC 60749-4:2017
Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 4: Calor húmedo, estado estacionario, prueba de esfuerzo altamente acelerado (HAST)
- Estándar No.
- IEC 60749-4:2017
- Fecha de publicación
- 2017
- Organización
- International Electrotechnical Commission (IEC)
- Ultima versión
- IEC 60749-4:2017
- Reemplazar
- IEC 47/2346/FDIS:2016 IEC 60749-4:2002 IEC 60749-4 CORR 1:2003
- Alcance
- Esta parte de IEC 60749 proporciona una prueba de estrés de temperatura y humedad (HAST) altamente acelerada con el fin de evaluar la confiabilidad de dispositivos semiconductores empaquetados no herméticos en ambientes húmedos.
IEC 60749-4:2017 Documento de referencia
- IEC 60749-5:2003 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 5: Prueba de vida útil de polarización de humedad y temperatura en estado estacionario.
IEC 60749-4:2017 Historia
- 2017 IEC 60749-4:2017 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 4: Calor húmedo, estado estacionario, prueba de esfuerzo altamente acelerado (HAST)
- 2003 IEC 60749-4:2002/COR1:2003 Dispositivos semiconductores - Métodos de prueba mecánicos y climáticos - Parte 4: Calor húmedo @ Estado estable @ Prueba de tensión altamente acelerada (HAST) CORRIGENDUM 1 (Edición 1.0)
- 2002 IEC 60749-4:2002 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 4: Calor húmedo, estado estacionario, prueba de esfuerzo altamente acelerado (HAST)
