IEC 60749-4:2002/COR1:2003
Dispositivos semiconductores - Métodos de prueba mecánicos y climáticos - Parte 4: Calor húmedo @ Estado estable @ Prueba de tensión altamente acelerada (HAST) CORRIGENDUM 1 (Edición 1.0)

Estándar No.

IEC 60749-4:2002/COR1:2003

Fecha de publicación

2003

Organización

IEC - International Electrotechnical Commission

Estado

 2017-03

Remplazado por

IEC 60749-4:2017

Ultima versión

IEC 60749-4:2017

IEC 60749-4:2002/COR1:2003 Historia

• 2017 IEC 60749-4:2017 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 4: Calor húmedo, estado estacionario, prueba de esfuerzo altamente acelerado (HAST)
• 2003 IEC 60749-4:2002/COR1:2003 Dispositivos semiconductores - Métodos de prueba mecánicos y climáticos - Parte 4: Calor húmedo @ Estado estable @ Prueba de tensión altamente acelerada (HAST) CORRIGENDUM 1 (Edición 1.0)
• 2002 IEC 60749-4:2002 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 4: Calor húmedo, estado estacionario, prueba de esfuerzo altamente acelerado (HAST)