IEC 60749-5:2003 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 5: Prueba de vida útil de polarización de humedad y temperatura en estado estacionario. normas y especificaciones

Estándar No.: IEC 60749-5:2003
Fecha de publicación: 2003
Organización: International Electrotechnical Commission (IEC)
Estado: 2017-04
Remplazado por: IEC 60749-5:2017
Ultima versión: IEC 60749-5:2023 PRV
Reemplazar: IEC 47/1661/FDIS:2002 IEC 60749:1996 IEC 60749 AMD 1:2000 IEC 60749 AMD 2:2001 IEC 60749 Edition 2.2:2002 IEC/PAS 62161:2000

Alcance: Proporciona una prueba de vida útil de polarización de temperatura y humedad en estado estable con el fin de evaluar la confiabilidad de dispositivos de estado sólido empaquetados no herméticos en ambientes húmedos.

IEC 60749-5:2003 Historia

0000 IEC 60749-5:2023 PRV
2017 IEC 60749-5:2017 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 5: Prueba de vida útil de polarización de humedad y temperatura en estado estacionario.
2003 IEC 60749-5:2003 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 5: Prueba de vida útil de polarización de humedad y temperatura en estado estacionario.

IEC 60749-5:2003 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 5: Prueba de vida útil de polarización de humedad y temperatura en estado estacionario. ha sido cambiado a IEC 60749:1996 Dispositivos semiconductores: métodos de prueba mecánicos y climáticos..

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IEC 60749-5:2003 Historia

IEC 60749-5:2003
Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 5: Prueba de vida útil de polarización de humedad y temperatura en estado estacionario.