GB/T 36357-2018 (Versión en inglés)

Estándar No.: GB/T 36357-2018
Idiomas: Chino, Disponible en inglés
Fecha de publicación: 2018
Organización: General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China
Ultima versión: GB/T 36357-2018

Alcance: Esta norma especifica los requisitos técnicos, los métodos de inspección, las reglas de inspección, el embalaje, el transporte y el almacenamiento de productos de chips de diodos emisores de luz semiconductores de potencia media (en lo sucesivo, chips). Esta norma se aplica a los chips de diodos emisores de luz semiconductores de potencia media.

GB/T 36357-2018 Documento de referencia

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GB/T 2423.4-2008 Pruebas ambientales para productos eléctricos y electrónicos - Parte 2: Método de prueba Prueba Db alternando calor húmedo (ciclo de 12h + 12h)
GB/T 4589.1-2006 Dispositivos semiconductores. Parte 10: Especificación genérica para dispositivos discretos y circuitos integrados
GB/T 4937.1-2006 Dispositivos semiconductores. Métodos de ensayo mecánicos y climáticos. Parte 1: Generalidades
IEC 60749 Dispositivos semiconductores: métodos de prueba mecánicos y climáticos.
IEC 60749-19:2010 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 19: Ensayo de resistencia al corte.
IEC 60749-22:2002 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 22: Fuerza de unión.
SJ/T 11394-2009 Métodos de medición de diodos emisores de luz semiconductores.
SJ/T 11399-2009 Métodos de medición para chips de diodos emisores de luz.

2018 GB/T 36357-2018 Especificación técnica para chips de diodos emisores de luz de potencia media.