SJ/T 11394-2009
Métodos de medición de diodos emisores de luz semiconductores. (Versión en inglés)

Estándar No.

SJ/T 11394-2009

Idiomas

Chino, Disponible en inglés

Fecha de publicación

2009

Organización

Professional Standard - Electron

Ultima versión

SJ/T 11394-2009

Reemplazar

SJ 2355.7-1983 SJ 2355.6-1983 SJ 2355.5-1983 SJ 2355.4-1983 SJ 2355.3-1983 SJ 2355.2-1983 SJ 2355.1-1983

Alcance

Esta norma especifica los métodos de prueba para parámetros radiométricos, fotométricos, colorimétricos, eléctricos, térmicos y compatibilidad electromagnética de diodos emisores de luz semiconductores (en adelante, dispositivos). Esta norma se aplica a los diodos emisores de luz semiconductores de luz visible y luz blanca. Como referencia, se pueden realizar pruebas de diodos emisores de luz ultravioleta, diodos emisores de infrarrojos, componentes semiconductores emisores de luz y chips.

SJ/T 11394-2009 Documento de referencia

• CIE 127-1997 Medición de LED
• GB/T 11499-2001 Símbolos de letras para dispositivos semiconductores discretos
• GB/T 15651-1995 Dispositivos semiconductores. Dispositivos discretos y circuitos integrados. Parte 5: Dispositivos optoelectrónicos
• GB/T 4365-2003 Terminología electrotécnica Compatibilidad electromagnética
• GB/T 5698-2001 Glosario de términos de color
• GB/T 5702-2003 Métodos para medir el color de las fuentes de luz.
• GB/T 7921-1997 Espacio de color uniforme y fórmula de diferencia de color.
• GB/T 7922-2003 Método de medición del color de las fuentes de luz.

SJ/T 11394-2009 Historia

• 2009 SJ/T 11394-2009 Métodos de medición de diodos emisores de luz semiconductores.
• 1983 SJ 2355.1-1983 Procedimientos generales de medición para dispositivos emisores de luz.

SJ/T 11394-2009 Métodos de medición de diodos emisores de luz semiconductores. ha sido cambiado a SJ 2355.7-1983 Método de medición de la longitud de onda de emisión máxima y el ancho de banda de radiación espectral de dispositivos emisores de luz..

SJ/T 11394-2009 Métodos de medición de diodos emisores de luz semiconductores. ha sido cambiado a SJ 2355.6-1983 Método de medición del flujo luminoso de dispositivos emisores de luz..

SJ/T 11394-2009 Métodos de medición de diodos emisores de luz semiconductores. ha sido cambiado a SJ 2355.5-1983 Método de medición de la intensidad luminosa y del ángulo de semiintensidad de los dispositivos emisores de luz..

SJ/T 11394-2009 Métodos de medición de diodos emisores de luz semiconductores. ha sido cambiado a SJ 2355.4-1983 Métodos de medición de la capacitancia de unión de dispositivos emisores de luz..

SJ/T 11394-2009 Métodos de medición de diodos emisores de luz semiconductores. ha sido cambiado a SJ 2355.3-1983 Método de medición de corriente inversa de dispositivos emisores de luz..

SJ/T 11394-2009 Métodos de medición de diodos emisores de luz semiconductores. ha sido cambiado a SJ 2355.2-1983 Método de medición de la caída de tensión directa de dispositivos emisores de luz..

SJ/T 11394-2009 Métodos de medición de diodos emisores de luz semiconductores. ha sido cambiado a SJ 2355.1-1983 Procedimientos generales de medición para dispositivos emisores de luz..