ASTM E1523-15 normas y especificaciones

Estándar No.: ASTM E1523-15
Fecha de publicación: 2015
Organización: American Society for Testing and Materials (ASTM)
Ultima versión: ASTM E1523-15

Alcance: 5.1 La adquisición de información química a partir de variaciones en la posición de energía de los picos en el espectro XPS es de principal interés en el uso de XPS como herramienta analítica de superficies. La carga superficial actúa para cambiar los picos espectrales independientemente de su relación química con otros elementos en la misma superficie. El deseo de eliminar la influencia de la carga superficial en las posiciones y formas de los picos ha resultado en el desarrollo de varios métodos empíricos diseñados para ayudar en la interpretación de las posiciones de los picos XPS, determinar la química de la superficie y permitir la comparación de espectros de conductores y no conductores. -sistemas conductores de un mismo elemento. Se supone que el espectrómetro generalmente funciona correctamente para muestras no aislantes (consulte la Práctica E902). 5.2 Aunque ahora se han desarrollado métodos altamente confiables para estabilizar los potenciales superficiales durante el análisis XPS de la mayoría de los materiales (5, 6), no se ha desarrollado ningún método único para abordar la carga superficial en todas las circunstancias (10, 11). . Para los aisladores, la elección adecuada de cualquier sistema de control o referencia dependerá de la naturaleza de la muestra, los instrumentos y la información necesaria. El uso adecuado de técnicas de referencia y control de carga dará como resultado datos más consistentes y reproducibles. Se insta encarecidamente a los investigadores a que informen sobre las técnicas de control y referencia que se han utilizado, los picos específicos y las energías de enlace utilizadas como estándares (si las hay) y los criterios aplicados para determinar los resultados óptimos, de modo que se puedan realizar las comparaciones adecuadas. 1.1 Esta guía familiariza al usuario de espectroscopía fotoelectrónica de rayos X (XPS) con las diversas técnicas de control de carga y referencia de desplazamiento de carga que se utilizan y se han utilizado en la adquisición e interpretación de datos XPS de superficies de muestras aislantes y proporciona la información necesaria para informar los métodos utilizados a los clientes o en la literatura. 1.2 Esta guía está destinada a aplicarse a las técnicas de control de carga y referencia de carga en XPS y no es necesariamente aplicable a sistemas excitados por electrones. 1.3 Los valores indicados en unidades SI deben considerarse estándar. No se incluyen otras unidades de medida en esta norma. 1.4 Esta norma no pretende abordar todos los problemas de seguridad, si los hay, asociados con su uso. Es responsabilidad del usuario de esta norma establecer prácticas apropiadas de seguridad y salud y determinar la aplicabilidad de las limitaciones reglamentarias antes de su uso.

ASTM E1523-15 Documento de referencia

ASTM E1078 Guía estándar de procedimientos para la preparación y montaje de muestras en análisis de superficies
ASTM E1829 Guía estándar para el manejo de muestras antes del análisis de superficie
ASTM E673 Terminología estándar relacionada con el análisis de superficies
ASTM E902 Práctica estándar para verificar las características operativas de los espectrómetros de fotoelectrones de rayos X

ASTM E1523-15 Historia

2015 ASTM E1523-15
2009 ASTM E1523-09 Guía estándar para técnicas de control de carga y referencia de carga en espectroscopia de fotoelectrones de rayos X
2003 ASTM E1523-03 Guía estándar para técnicas de control de carga y referencia de carga en espectroscopia de fotoelectrones de rayos X
1997 ASTM E1523-97 Guía estándar para técnicas de control de carga y referencia de carga en espectroscopia de fotoelectrones de rayos X