ASTM E1523-03
Guía estándar para técnicas de control de carga y referencia de carga en espectroscopia de fotoelectrones de rayos X

Estándar No.
ASTM E1523-03
Fecha de publicación
2003
Organización
American Society for Testing and Materials (ASTM)
Estado
Remplazado por
ASTM E1523-09
Ultima versión
ASTM E1523-15
Alcance
La adquisición de información química a partir de variaciones en la posición energética de los picos en el espectro XPS es de principal interés en el uso de XPS como herramienta analítica de superficies. La carga superficial actúa para cambiar los picos espectrales independientemente de su relación química con otros elementos en la misma superficie. El deseo de eliminar la influencia de la carga superficial en las posiciones y formas de los picos ha resultado en el desarrollo de varios métodos empíricos diseñados para ayudar en la interpretación de las posiciones de los picos XPS, determinar la química de la superficie y permitir la comparación de espectros de conductores y no conductores. sistemas del mismo elemento. Se supone que el espectrómetro generalmente funciona correctamente para muestras no aislantes (consulte la Práctica E 902). No se ha desarrollado ningún método ideal para abordar la carga superficial (3, 4). Para los aisladores, la elección adecuada de cualquier sistema de control o referencia dependerá de la naturaleza de la muestra, los instrumentos y la información necesaria. El uso adecuado de técnicas de referencia y control de carga dará como resultado datos más consistentes y reproducibles. Se insta encarecidamente a los investigadores a que informen sobre las técnicas de control y referencia que se han utilizado, los picos específicos y las energías de enlace utilizadas como estándares (si corresponde) y los criterios aplicados para determinar los resultados óptimos, de modo que se puedan realizar las comparaciones apropiadas.1.1 La guía cubre la familiarización del usuario de XPS con las diversas técnicas de control de carga y referencia de desplazamiento de carga que se utilizan y se han utilizado en la adquisición e interpretación de datos de espectroscopía de fotoelectrones de rayos X (XPS) de superficies de muestras aislantes. 1.2 Esta guía está destinada a aplicarse a las técnicas de control de carga y referencia de carga en XPS y no es necesariamente aplicable a sistemas excitados por electrones. 1.3 Las unidades SI son estándar a menos que se indique lo contrario. 1.4 Esta norma no pretende abordar todos los problemas de seguridad, si los hay, asociados con su uso. Es responsabilidad del usuario de esta norma establecer prácticas apropiadas de seguridad y salud y determinar la aplicabilidad de las limitaciones reglamentarias antes de su uso.

ASTM E1523-03 Historia

  • 2015 ASTM E1523-15
  • 2009 ASTM E1523-09 Guía estándar para técnicas de control de carga y referencia de carga en espectroscopia de fotoelectrones de rayos X
  • 2003 ASTM E1523-03 Guía estándar para técnicas de control de carga y referencia de carga en espectroscopia de fotoelectrones de rayos X
  • 1997 ASTM E1523-97 Guía estándar para técnicas de control de carga y referencia de carga en espectroscopia de fotoelectrones de rayos X



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