ASTM E1078-14
Guía estándar para la preparación y montaje de muestras en análisis de superficies

Estándar No.

ASTM E1078-14

Fecha de publicación

2014

Organización

American Society for Testing and Materials (ASTM)

Estado

Remplazado por

ASTM E1078-14(2020)

Ultima versión

ASTM E1078-14(2020)

Alcance

4.1 La preparación y el montaje adecuados de las muestras son particularmente críticos para el análisis de superficies. La preparación inadecuada de las muestras puede provocar alteraciones de la composición de la superficie y datos poco fiables. Las muestras deben manipularse con cuidado para evitar la introducción de contaminantes espurios en el proceso de preparación y montaje. El objetivo debe ser preservar el estado de la superficie para que el análisis siga siendo representativo del original. 4.2 AES, XPS o ESCA y SIMS son sensibles a capas superficiales que suelen tener unos pocos nanómetros de espesor. Estas capas delgadas pueden estar sujetas a graves perturbaciones causadas por la manipulación de la muestra (1)4 o por los tratamientos superficiales que pueden ser necesarios antes de su introducción en la cámara analítica. Además, las técnicas de montaje de muestras tienen el potencial de afectar el análisis previsto. 4.3 Esta guía describe los métodos que el analista de superficies puede necesitar para minimizar los efectos de la preparación de la muestra cuando utiliza cualquier técnica analítica sensible a la superficie. También se describen métodos para montar muestras para garantizar que la información deseada no se vea comprometida. 4.4 La Guía E1829 describe el manejo de muestras sensibles a las superficies y, como tal, complementa esta guía. 1.1 Esta guía cubre la preparación y el montaje de muestras antes, durante y después del análisis de superficies y se aplica a las siguientes disciplinas de análisis de superficies: 1.1.1 Espectroscopia de electrones Auger (AES), 1.1.2& # Espectroscopia de fotoelectrones de rayos X (XPS y ESCA), y 1.1.3 Espectrometría de masas de iones secundarios (SIMS). 1.1.4 Aunque están escritos principalmente para AES, XPS y SIMS, estos métodos también se aplicarán a muchos métodos de análisis sensibles a superficies, como la espectrometría de dispersión de iones, la difracción de electrones de baja energía y la espectroscopia de pérdida de energía de electrones, donde la muestra La manipulación puede influir en las mediciones sensibles a la superficie. 1.2 Los valores indicados en unidades SI deben considerarse estándar. No se incluyen otras unidades de medida en esta norma. 1.3 Esta norma no pretende abordar todos los problemas de seguridad, si los hay, asociados con su uso. Es responsabilidad del usuario de esta norma establecer prácticas apropiadas de seguridad y salud y determinar la aplicabilidad de las limitaciones reglamentarias antes de su uso.

ASTM E1078-14 Documento de referencia

• ASTM E1127 Guía estándar para perfiles de profundidad en espectroscopía electrónica de Auger
• ASTM E1523 Guía estándar para técnicas de control de carga y referencia de carga en espectroscopia de fotoelectrones de rayos X
• ASTM E1829 Guía estándar para el manejo de muestras antes del análisis de superficie
• ASTM E983 Guía estándar para minimizar los efectos no deseados del haz de electrones en la espectroscopía de electrones Auger

ASTM E1078-14 Historia

• 2020 ASTM E1078-14(2020) Guía estándar para la preparación y montaje de muestras en análisis de superficies
• 2014 ASTM E1078-14 Guía estándar para la preparación y montaje de muestras en análisis de superficies
• 2009 ASTM E1078-09 Guía estándar para la preparación y montaje de muestras en análisis de superficies
• 2002 ASTM E1078-02 Guía estándar para la preparación y montaje de muestras en análisis de superficies
• 1997 ASTM E1078-97 Guía estándar de procedimientos para la preparación y montaje de muestras en análisis de superficies