BS EN 62149-2:2014
Componentes y dispositivos activos de fibra óptica. Estándares de desempeño. Dispositivos láser emisores de superficie de cavidad vertical discreta de 850 nm
- Estándar No.
- BS EN 62149-2:2014
- Fecha de publicación
- 2014
- Organización
- British Standards Institution (BSI)
- Ultima versión
- BS EN 62149-2:2014
- Reemplazar
- BS EN 62149-2:2009
BS EN 62149-2:2014 Documento de referencia
- EN 60191 Estandarización mecánica de dispositivos semiconductores - Parte 6: Reglas generales para la preparación de dibujos esquemáticos de paquetes de dispositivos semiconductores montados en superficie
- EN 60747-5-1
- EN 60749 Dispositivos semiconductores - Métodos de prueba mecánicos y climáticos (Incorpora las modificaciones A1:2000 y A2:2001)
- EN 60749-6 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 6: Almacenamiento a alta temperatura.*， 2017-06-16 Actualizar
- EN 60749-7 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 7: Medición del contenido de humedad interna y análisis de otros gases residuales.
- EN 60825 Seguridad radiológica de productos láser@ Clasificación de equipos@ Requisitos y guía del usuario
- EN 60825-1 Seguridad de los productos láser - Parte 1: Clasificación y requisitos de los equipos*， 2019-03-01 Actualizar
- EN 60950-1 Equipos de tecnología de la información - Seguridad Parte 1: Requisitos generales Incorpora la Enmienda A1: 2010
- EN 61300-2-4 Dispositivos de interconexión de fibra óptica y componentes pasivos Procedimientos básicos de prueba y medición Parte 2-4: Pruebas: retención de fibra/cable
- IEC 60191 Estandarización mecánica de dispositivos semiconductores - Parte 6: Reglas generales para la preparación de dibujos esquemáticos de paquetes de dispositivos semiconductores montados en superficie
- IEC 60747-5-1 Dispositivos semiconductores discretos y circuitos integrados. Parte 5-1: Dispositivos optoelectrónicos; General
- IEC 60749 Dispositivos semiconductores: métodos de prueba mecánicos y climáticos.
- IEC 60749-6 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 6: Almacenamiento a alta temperatura.*， 2017-03-01 Actualizar
- IEC 60749-7 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 7: Medición del contenido de humedad interna y análisis de otros gases residuales.
- IEC 60825 Seguridad de los productos láser: TODAS LAS PARTES*， 2023-05-25 Actualizar
- IEC 60825-1 Hoja de interpretación 2 - Seguridad de los productos láser - Parte 1: Clasificación y requisitos de los equipos*， 2017-12-19 Actualizar
- IEC 60874 Conectores para fibras y cables ópticos; parte 9: especificación seccional para conector de fibra óptica; tipo OF-2
- IEC 60950-1 Equipos de tecnología de la información - Seguridad - Parte 1: Requisitos generales*， 2023-10-31 Actualizar
- IEC 61280-1-3 Procedimientos de prueba del subsistema de comunicación de fibra óptica. Parte 1-3: Subsistemas de comunicación generales. Medición de la longitud de onda central, el ancho espectral y las características espectrales adicionales.*， 2021-07-05 Actualizar
- IEC 61300-2-4 Enmienda 1 - Dispositivos de interconexión de fibra óptica y componentes pasivos - Procedimientos básicos de prueba y medición - Parte 2-4: Pruebas - Retención de fibra o cable*， 2020-01-01 Actualizar
- IEC 62007-1 Enmienda 1 - Dispositivos optoelectrónicos semiconductores para aplicaciones de sistemas de fibra óptica - Parte 1: Plantilla de especificación para clasificaciones y características esenciales*， 2022-09-22 Actualizar
- IEC 62007-2 Dispositivos optoelectrónicos semiconductores para aplicaciones de sistemas de fibra óptica. Parte 2: Métodos de medición.
- IEC 62148-1 Componentes y dispositivos activos de fibra óptica - Estándares de paquete e interfaz - Parte 1: Generalidades y orientación*， 2017-08-31 Actualizar
- IEC 62149-1 Componentes y dispositivos activos de fibra óptica - Estándares de rendimiento - Parte 1: Generalidades y orientación
- IEC Guide 107 Compatibilidad electromagnética - Guía para la redacción de publicaciones de compatibilidad electromagnética
BS EN 62149-2:2014 Historia
- 2014 BS EN 62149-2:2014 Componentes y dispositivos activos de fibra óptica. Estándares de desempeño. Dispositivos láser emisores de superficie de cavidad vertical discreta de 850 nm
- 2010 BS EN 62149-2:2009 Componentes y dispositivos activos de fibra óptica - Estándares de rendimiento - Dispositivos láser emisores de superficie de cavidad vertical discreta de 850 nm
