IEC 60749-7:2011 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 7: Medición del contenido de humedad interna y análisis de otros gases residuales. normas y especificaciones

Estándar No.: IEC 60749-7:2011
Fecha de publicación: 2011
Organización: International Electrotechnical Commission (IEC)
Ultima versión: IEC 60749-7:2011
Reemplazar: IEC 47/2087/FDIS:2011 IEC 60749-7:2002 IEC 60749-7 Corrigendum 1:2003

Alcance: Esta norma internacional especifica las pruebas y mediciones del contenido de vapor de agua y otros gases de la atmósfera dentro de un dispositivo herméticamente sellado de metal o cerámica. La prueba se utiliza como medida de la calidad del proceso de sellado y para proporcionar información sobre la estabilidad química a largo plazo de la atmósfera dentro del paquete. Es aplicable a dispositivos semiconductores sellados de esta manera, pero generalmente solo se usa para aplicaciones de alta confiabilidad, como las militares o aeroespaciales. Esta prueba es destructiva.

IEC 60749-7:2011 Historia

2011 IEC 60749-7:2011 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 7: Medición del contenido de humedad interna y análisis de otros gases residuales.
2003 IEC 60749-7/COR1:2003 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 7: Medición del contenido de humedad interna y análisis de otros gases residuales.
2002 IEC 60749-7:2002 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 7: Medición del contenido de humedad interna y análisis de otros gases residuales.