ASTM F42-93(1997)
Métodos de prueba estándar para el tipo de conductividad de materiales semiconductores extrínsecos

Estándar No.

ASTM F42-93(1997)

Fecha de publicación

1993

Organización

American Society for Testing and Materials (ASTM)

Estado

Remplazado por

ASTM F42-02

Ultima versión

ASTM F42-02

Alcance

1.1 Estos métodos de prueba cubren la determinación del tipo de conductividad de semiconductores extrínsecos. Si bien se dan detalles explícitos para el germanio y el silicio, debería ser factible la inclusión de otros materiales extrínsecos como el arseniuro de galio y el antimonuro de indio. Sin embargo, para estos últimos compuestos, la aplicabilidad no se ha verificado formalmente mediante pruebas circulares. Las determinaciones se pueden realizar de manera más confiable en material a granel homogéneo, pero estos métodos de prueba también se pueden usar para mapear regiones de diferente tipo de conductividad en las superficies de muestras no homogéneas. Estos métodos de prueba no se han probado en estructuras estratificadas como las capas epitaxiales. Las mediciones en estas estructuras pueden dar indicaciones erróneas del tipo de conductividad. 1.2 Se describen cuatro métodos de prueba: 1.2.1 Método de prueba A: prueba de tipo conductividad EMF térmica con sonda caliente. 1.2.2 Método de prueba B: Prueba de conductividad térmica EMF con sonda fría. 1.2.3 Método de prueba C: Prueba de conductividad de rectificación de punto de contacto. 1.2.4 Método de prueba Tipo D: Todo el sistema opera en dos modos: 1.2.4.1 Prueba tipo Conductividad de rectificación. 1.2.4.2 Prueba de tipo conductividad térmica EMF. 1.3 La experiencia ha demostrado que el Método de prueba A (sonda caliente) da resultados confiables en silicio de tipo n y p con una resistividad a temperatura ambiente de hasta 1000 ωcm. Nota 1: La resistividad de las muestras de germanio se puede medir de acuerdo con los métodos de prueba F43 y la resistividad de las rodajas de silicio se puede medir de acuerdo con los métodos de prueba F43 o el método de prueba F84. 1.4 El Método de prueba B (sonda en frío) proporciona resultados confiables para germanio de tipo n y p que tiene una resistividad a temperatura ambiente de 20 ωcm o menos y para silicio de tipo n y p que tiene una resistividad de hasta a 1000 [omega] [punto] cm (Nota 1). Esta técnica tiene la ventaja sobre el método de prueba de sonda caliente de que la amplitud de la señal se puede aumentar desarrollando una mayor diferencia de temperatura entre las dos sondas. 1.5 El Método de prueba C (rectificación) es una técnica simple y conveniente que proporciona resultados confiables para silicio tipo n y p con resistividad a temperatura ambiente entre 1 y 1000 ωcm. Este método de prueba no se recomienda para el germanio (Nota 1). 1.6 El Método de prueba D (modo de rectificación total) es apropiado para su uso en silicio tipo ny p que tiene una resistividad a temperatura ambiente entre 0,1 y 1000 ωcm, inclusive (Nota 1). 1.7 El Método de prueba D (modo de fem térmica de todo tipo) es apropiado para su uso en silicio tipo ny p que tiene una resistividad a temperatura ambiente entre 0,002 y 0,1 ωcm, inclusive (Nota 1). 1.8 Estos métodos de prueba pueden aplicarse fuera de los límites indicados anteriormente, pero su idoneidad fuera de estos límites no ha sido verificada experimentalmente. 1.9 Se recomienda que si no se pueden obtener resultados satisfactorios con el uso de estos métodos de prueba, el tipo de conductividad se determine a partir de mediciones del efecto Hall como se describe en los Métodos de prueba F76. Nota 2-DIN 50432 cubre equivalentes técnicos de los Métodos de prueba A y C de estos métodos de prueba, pero no incluye los Métodos de prueba B y D. 1.10 Esta norma no pretende abordar todos los problemas de seguridad, si los hay, asociados con su uso. . Es responsabilidad del usuario de esta norma establecer prácticas apropiadas de seguridad y salud y determinar la aplicabilidad de las limitaciones reglamentarias antes de su uso.

ASTM F42-93(1997) Documento de referencia

• ASTM D1125 Métodos de prueba estándar para conductividad eléctrica y resistividad del agua*， 1995-11-09 Actualizar
• ASTM F43 
• ASTM F76 Métodos de prueba estándar para medir la resistividad y el coeficiente Hall y determinar la movilidad Hall en semiconductores monocristalinos
• ASTM F84 

ASTM F42-93(1997) Historia

• 1970 ASTM F42-02
• 1993 ASTM F42-93(1997) Métodos de prueba estándar para el tipo de conductividad de materiales semiconductores extrínsecos