Esta norma especifica la clasificación del producto, la terminología, los requisitos técnicos, los métodos de prueba, las reglas de inspección, las señales, el embalaje, el transporte, el almacenamiento, etc. de las obleas de corte y molienda de monocristal de silicio (obleas de silicio para abreviar). Esta norma se aplica a las obleas de silicio circulares preparadas cortando y triturando por ambos lados a partir de monocristales de silicio dopados con Czochralski, fusión en zona de suspensión y transmutación de neutrones. Los productos se utilizan principalmente para fabricar dispositivos semiconductores, como transistores y dispositivos rectificadores, o para su posterior procesamiento en obleas pulidas.
GB/T 12965-2005 Documento de referencia
GB/T 1550 Métodos de prueba para el tipo de conductividad de materiales semiconductores extrínsecos.*, 2018-12-28 Actualizar
GB/T 1552 Método de prueba para medir la resistividad de silicio monocristalino y germanio con una matriz colineal de cuatro sondas
GB/T 1554 Método de prueba para la perfección cristalográfica del silicio mediante técnicas de grabado preferencial.*, 2009-10-30 Actualizar
GB/T 1555 Método para determinar la orientación cristalina de un monocristal semiconductor*, 2023-08-06 Actualizar
GB/T 2828.1 Procedimiento de inspección por muestreo de conteo, parte 1: Plan de muestreo de inspección lote por lote recuperado por el límite de calidad de aceptación (AQL)*, 2013-02-15 Actualizar
GB/T 12965-2005 Historia
2018GB/T 12965-2018 Silicio monocristalino en forma de obleas cortadas y obleas lapeadas
2005GB/T 12965-2005 Rebanadas cortadas de silicio monocristalino y rebanadas traslapadas
1996GB/T 12965-1996 Silicio monocristalino en forma de rodajas cortadas y rodajas traslapadas