GB/T 1554-2009
Método de prueba para la perfección cristalográfica del silicio mediante técnicas de grabado preferencial. (Versión en inglés)

Estándar No.

GB/T 1554-2009

Idiomas

Chino, Disponible en inglés

Fecha de publicación

2009

Organización

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China

Ultima versión

GB/T 1554-2009

Reemplazar

GB/T 1554-1995

Alcance

Esta norma especifica el método para probar la integridad de los cristales de silicio mediante técnicas de grabado preferenciales. Esta norma se aplica a defectos primarios en lingotes u obleas de monocristal de silicio con orientación cristalina, o resistividad de 10Ω•m～10Ω•m, y densidad de dislocación entre 0cm～10cm de inspección. Este método también es aplicable a obleas individuales de silicio.

GB/T 1554-2009 Documento de referencia

• GB/T 14262-1993 Métodos para el muestreo y preparación de muestras de concentrados de plomo para flotación a granel.
• YS/T 209-1994 Mapa de defectos in situ de materiales de silicio.

GB/T 1554-2009 Historia

• 2009 GB/T 1554-2009 Método de prueba para la perfección cristalográfica del silicio mediante técnicas de grabado preferencial.
• 1995 GB/T 1554-1995 Método de prueba para la perfección cristalográfica del silicio mediante técnicas de grabado preferencial.