GB/T 1552-1995
Método de prueba para medir la resistividad de silicio monocristalino y germanio con una matriz colineal de cuatro sondas (Versión en inglés)
- Estándar No.
- GB/T 1552-1995
- Idiomas
- Chino, Disponible en inglés
- Fecha de publicación
- 1995
- Organización
- General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China
- Estado
- 2010-06
- Remplazado por
- GB/T 1551-2009
- Ultima versión
- GB/T 1551-2021
- Alcance
- Esta norma especifica el método para medir la resistividad de monocristales de silicio y germanio con cuatro sondas en línea. Esta norma es aplicable a la resistividad volumétrica de monocristales de silicio y germanio cuyo espesor y la distancia más corta desde el borde de la muestra hasta cualquier punto final de la sonda son mayores que 4 veces el espacio entre los pines de control, y para los cuales el diámetro es mayor que el espacio entre las sondas. 10 veces la resistividad de las obleas individuales de silicio y germanio (denominadas obleas) cuyo espesor es inferior a 4 veces el espacio entre pines. El rango de medición es silicio: 1×10-3～3×103Ω·cm, germanio: 1×10-3, 1×102Ω·cm.
GB/T 1552-1995 Historia
- 2021 GB/T 1551-2021 Método de prueba para medir la resistividad del silicio monocristalino: método de sonda de cuatro puntos en línea y método de sonda de dos puntos de corriente continua
- 2009 GB/T 1551-2009 Método de prueba para medir la resistividad del silicio monocristal.
- 1995 GB/T 1552-1995 Método de prueba para medir la resistividad de silicio monocristalino y germanio con una matriz colineal de cuatro sondas
GB/T 1552-1995 Método de prueba para medir la resistividad de silicio monocristalino y germanio con una matriz colineal de cuatro sondas ha sido cambiado a GB/T 1551-2009 Método de prueba para medir la resistividad del silicio monocristal..
