IEC 60749-5:2017
Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 5: Prueba de vida útil de polarización de humedad y temperatura en estado estacionario.
- Estándar No.
- IEC 60749-5:2017
- Fecha de publicación
- 2017
- Organización
- International Electrotechnical Commission (IEC)
- Estado
- 2023-09
- Remplazado por
- IEC 60749-5:2023 PRV
- Ultima versión
- IEC 60749-5:2023 PRV
- Reemplazar
- IEC 47/2367/FDIS:2017 IEC 60749-5:2003
- Alcance
- Esta parte de IEC 60749 proporciona una prueba de vida útil de polarización de temperatura y humedad en estado estacionario con el fin de evaluar la confiabilidad de dispositivos de estado sólido empaquetados no herméticos en ambientes húmedos. Este método de prueba se considera destructivo.
IEC 60749-5:2017 Documento de referencia
- IEC 60749-4:2017 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 4: Calor húmedo, estado estacionario, prueba de esfuerzo altamente acelerado (HAST)
IEC 60749-5:2017 Historia
- 0000 IEC 60749-5:2023 PRV
- 2017 IEC 60749-5:2017 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 5: Prueba de vida útil de polarización de humedad y temperatura en estado estacionario.
- 2003 IEC 60749-5:2003 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 5: Prueba de vida útil de polarización de humedad y temperatura en estado estacionario.
