ISO/TS 18507:2015
Análisis químico de superficies: uso de espectroscopia de fluorescencia de rayos X de reflexión total en análisis biológicos y ambientales
- Estándar No.
- ISO/TS 18507:2015
- Fecha de publicación
- 2015
- Organización
- International Organization for Standardization (ISO)
- Ultima versión
- ISO/TS 18507:2015
ISO/TS 18507:2015 Documento de referencia
- ISO 14706:2000 Análisis químico de superficies: determinación de la contaminación elemental de la superficie en obleas de silicio mediante espectroscopía de fluorescencia de rayos X de reflexión total (TXRF)
- ISO 17331:2004 Análisis químico de superficies: métodos químicos para la recolección de elementos de la superficie de materiales de referencia de trabajo de obleas de silicio y su determinación mediante espectroscopía de fluorescencia de rayos X de reflexión total (TXRF).
- ISO 18115-1:2013 Análisis químico de superficies. Vocabulario. Parte 1: Términos generales y términos utilizados en espectroscopia.
- ISO 18115-2:2013 Análisis químico de superficies. Vocabulario. Parte 2: Términos utilizados en microscopía de sonda de barrido.
ISO/TS 18507:2015 Historia
- 2015 ISO/TS 18507:2015 Análisis químico de superficies: uso de espectroscopia de fluorescencia de rayos X de reflexión total en análisis biológicos y ambientales
