ISO 11505:2012 Análisis químico de superficies: procedimientos generales para el perfilado compositivo cuantitativo de profundidad mediante espectrometría de emisión óptica de descarga luminosa
ISO 18115-1:2013 Análisis químico de superficies. Vocabulario. Parte 1: Términos generales y términos utilizados en espectroscopia.
ISO 3497:1990 Recubrimientos metálicos; medición del espesor del recubrimiento; Métodos espectrométricos de rayos X.
ISO 5725-2:1994 Exactitud (veracidad y precisión) de los métodos y resultados de medición. Parte 2: Método básico para la determinación de la repetibilidad y reproducibilidad de un método de medición estándar.
ISO 5725-3:1994 Exactitud (veracidad y precisión) de los métodos y resultados de medición. Parte 3: Medidas intermedias de la precisión de un método de medición estándar.
ISO 5725-4:1994 Exactitud (veracidad y precisión) de los métodos y resultados de medición - Parte 4: Métodos básicos para la determinación de la veracidad de un método de medición estándar
ISO 6955:1982 Métodos espectroscópicos analíticos; Emisión de llama, absorción atómica y fluorescencia atómica; Vocabulario edición bilingüe.
ISO 14707:2015 Historia
2021ISO 14707:2021 Análisis químico de superficies - Espectrometría de emisión óptica de descarga luminiscente (GD-OES) - Introducción al uso
2015ISO 14707:2015 Análisis químico de superficies - Espectrometría de emisión óptica de descarga luminiscente (GD-OES) - Introducción al uso
2000ISO 14707:2000 Análisis químico de superficies - Espectrometría de emisión óptica de descarga luminiscente (GD-OES) - Introducción al uso