ISO 11505:2012 Análisis químico de superficies: procedimientos generales para el perfilado compositivo cuantitativo de profundidad mediante espectrometría de emisión óptica de descarga luminosa normas y especificaciones

Alcance: Esta norma internacional describe un método espectrométrico de emisión óptica de descarga luminosa (GD-OES) para la determinación del espesor, la masa por unidad de área y la composición química de películas de capas superficiales. Se limita a una descripción de procedimientos generales de cuantificación de GD-OES y no es aplicable directamente para la cuantificación de materiales individuales que tienen varios espesores y elementos a determinar. NOTA Cualquier estándar individual para un material de prueba deberá especificar el alcance del espesor de la capa superficial, así como los elementos del analito, e incluir resultados de pruebas entre laboratorios para la validación de los métodos.

ISO 11505:2012 Historia

2012 ISO 11505:2012 Análisis químico de superficies: procedimientos generales para el perfilado compositivo cuantitativo de profundidad mediante espectrometría de emisión óptica de descarga luminosa