YS/T 1061-2015 (Versión en inglés)

Alcance: Esta norma especifica los requisitos, métodos de inspección, reglas de inspección, marcado, embalaje, transporte, almacenamiento, certificado de calidad y contenido del formulario de pedido (o contrato) para núcleos de silicio policristalino producidos mediante el método Siemens modificado. Esta norma se aplica al silicio policristalino como materia prima, a las barras de silicio producidas mediante el método Czochralski (CZ) y luego procesadas mediante corte con alambre o trefiladas mediante el método de pedestal.

YS/T 1061-2015 Documento de referencia

GB/T 11336 Medición de desviaciones de la rectitud.
GB/T 14264 Materiales semiconductores-Términos y definiciones
GB/T 1550 Métodos de prueba para el tipo de conductividad de materiales semiconductores extrínsecos.*， 2018-12-28 Actualizar
GB/T 1551 Método de prueba para medir la resistividad del silicio monocristalino: método de sonda de cuatro puntos en línea y método de sonda de dos puntos de corriente continua*， 2021-05-21 Actualizar
GB/T 1558 Método de prueba para determinar el contenido de carbono atómico sustitucional del silicio mediante absorción infrarroja
GB/T 24582 Determinación del contenido de impurezas metálicas en la superficie de polisilicio mediante espectrometría de masas con plasma acoplado inductivamente y lixiviación ácida.*， 2023-08-06 Actualizar
GB/T 2828.1 Procedimiento de inspección por muestreo de conteo, parte 1: Plan de muestreo de inspección lote por lote recuperado por el límite de calidad de aceptación (AQL)
GB/T 29849 Método de prueba para medir la contaminación metálica superficial de materiales de silicio utilizados para aplicaciones fotovoltaicas mediante espectrometría de masas de plasma acoplado inductivamente