BS PD CEN ISO/TS 17200:2015 Documento de referencia
EN 13925-1:2003 Ensayos no destructivos. Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos. Parte 1: Principios generales.
ISO 13322-1 Análisis del tamaño de partículas - Métodos de análisis de imágenes - Parte 1: Métodos de análisis de imágenes estáticas
ISO 14488 Materiales particulados. Muestreo y división de muestras para la determinación de las propiedades de las partículas. Enmienda 1.*, 2019-11-15 Actualizar
ISO 14887 Preparación de muestras: procedimientos de dispersión de polvos en líquidos.
ISO 18757:2003 Cerámica fina (cerámica avanzada, cerámica técnica avanzada) - Determinación de la superficie específica de polvos cerámicos mediante adsorción de gas mediante el método BET
ISO 2859 Procedimientos de muestreo y tablas para inspección por atributos — Anexo 1
ISO 29301:2010 Análisis de microhaces - Microscopía electrónica de transmisión analítica - Métodos para calibrar la ampliación de imágenes mediante el uso de materiales de referencia que tienen estructuras periódicas
ISO 3262-6 Extendentes. Especificaciones y métodos de ensayo. Parte 6: Carbonato de calcio precipitado.*, 2022-11-25 Actualizar
ISO 591-1:2000 Pigmentos de dióxido de titanio para pinturas. Parte 1: Especificaciones y métodos de ensayo.
ISO 9277:2010 Determinación de la superficie específica de sólidos mediante adsorción de gases - Método BET
ISO/TR 12885:2008 Nanotecnologías: prácticas de salud y seguridad en entornos ocupacionales relevantes para las nanotecnologías
ISO/TR 27628:2007 Atmósferas laborales - Aerosoles ultrafinos, nanopartículas y nanoestructurados - Caracterización y evaluación de la exposición por inhalación
ISO/TS 11931 Nanotecnologías - Carbonato de calcio a nanoescala en forma de polvo - Características y medición
ISO/TS 12805 Nanotecnologías - Especificaciones de materiales - Orientación sobre la especificación de nanoobjetos
ISO/TS 27687 Nanotecnologías - Terminología y definiciones de nanoobjetos - Nanopartículas, nanofibras y nanoplacas
JIS K 0131:1996 Reglas generales para el análisis difractométrico de rayos X.