JIS K 0131:1996
Reglas generales para el análisis difractométrico de rayos X.

Estándar No.

JIS K 0131:1996

Fecha de publicación

1996

Organización

Japanese Industrial Standards Committee (JISC)

Ultima versión

JIS K 0131:1996

Alcance

Esta norma estipula cuestiones generales al utilizar un dispositivo de difracción de rayos X para medir rayos X difractados para identificar y cuantificar sustancias, medir con precisión las constantes de la red y medir la cristalinidad.

JIS K 0131:1996 Historia

• 1996 JIS K 0131:1996 Reglas generales para el análisis difractométrico de rayos X.