Esta norma europea especifica los principios generales de la difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos. Este método de prueba de materiales se ha denominado tradicionalmente “difracción de rayos X en polvo (XRPD)” y ahora se aplica a polvos, materiales a granel, películas delgadas y otros. Como el método puede utilizarse para diversos tipos de materiales y para obtener una gran variedad de información, esta norma revisa una gran cantidad de tipos de análisis, pero no es exhaustiva.
EN 13925-1:2003 Documento de referencia
EN 13925-2:2003 Ensayos no destructivos - Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos - Parte 2: Procedimientos
EN 13925-1:2003 Historia
2003EN 13925-1:2003 Ensayos no destructivos. Difracción de rayos X de materiales policristalinos y amorfos. Parte 1: Principios generales.