KS C IEC 60749-23:2006
Dispositivos semiconductores－Métodos de prueba mecánicos y climáticos－Parte 23: Vida útil a alta temperatura

Estándar No.

KS C IEC 60749-23:2006

Fecha de publicación

2006

Organización

Korean Agency for Technology and Standards (KATS)

Estado

Remplazado por

KS C IEC 60749-23-2006(2016)

Ultima versión

KS C IEC 60749-23:2021

Alcance

Esta prueba determina cómo las condiciones de polarización y la temperatura afectan a los dispositivos de estado sólido a lo largo del tiempo.

KS C IEC 60749-23:2006 Historia

• 2021 KS C IEC 60749-23:2021 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 23: Vida útil a alta temperatura.
• 0000 KS C IEC 60749-23-2006(2016)
• 2006 KS C IEC 60749-23:2006 Dispositivos semiconductores－Métodos de prueba mecánicos y climáticos－Parte 23: Vida útil a alta temperatura