KS C IEC 60749-23-2006(2016)
Dispositivos semiconductores－Métodos de prueba mecánicos y climáticos－Parte 23: Vida útil a alta temperatura

Estándar No.

KS C IEC 60749-23-2006(2016)

Fecha de publicación

2006

Organización

Korean Agency for Technology and Standards (KATS)

Estado

Remplazado por

KS C IEC 60749-23:2021

Ultima versión

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KS C IEC 60749-23-2006(2016) Historia

• 2021 KS C IEC 60749-23:2021 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 23: Vida útil a alta temperatura.
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