KS C IEC 60749-23:2021
Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 23: Vida útil a alta temperatura.

Estándar No.

KS C IEC 60749-23:2021

Fecha de publicación

2021

Organización

Korean Agency for Technology and Standards (KATS)

Ultima versión

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KS C IEC 60749-23:2021 Historia

• 2021 KS C IEC 60749-23:2021 Dispositivos semiconductores. Métodos de prueba mecánicos y climáticos. Parte 23: Vida útil a alta temperatura.
• 0000 KS C IEC 60749-23-2006(2016)
• 2006 KS C IEC 60749-23:2006 Dispositivos semiconductores－Métodos de prueba mecánicos y climáticos－Parte 23: Vida útil a alta temperatura