BS ISO 13095:2014
Análisis químico de superficies. Fuerza atómica microscópica. Procedimiento para la caracterización in situ del perfil del vástago de la sonda AFM utilizado para la medición de nanoestructuras

Estándar No.
BS ISO 13095:2014
Fecha de publicación
2014
Organización
British Standards Institution (BSI)
Ultima versión
BS ISO 13095:2014

BS ISO 13095:2014 Documento de referencia

  • ISO 11039 Análisis químico de superficies - Microscopía de sonda de barrido - Medición de la tasa de deriva
  • ISO 11952 Análisis químico de superficies. Microscopía de sonda de barrido. Determinación de cantidades geométricas mediante SPM: calibración de sistemas de medición.*2019-05-21 Actualizar
  • ISO 18115-2:2010 Analyse chimique des Surfaces — Vocabulaire — Partie 2: Termes utilisés en microscopie à sonde à balayage (Première édition)
  • ISO/TS 80004-4:2011 Nanotecnologías - Vocabulario - Parte 4: Materiales nanoestructurados

BS ISO 13095:2014 Historia

  • 2014 BS ISO 13095:2014 Análisis químico de superficies. Fuerza atómica microscópica. Procedimiento para la caracterización in situ del perfil del vástago de la sonda AFM utilizado para la medición de nanoestructuras



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