BS ISO 13095:2014 Análisis químico de superficies. Fuerza atómica microscópica. Procedimiento para la caracterización in situ del perfil del vástago de la sonda AFM utilizado para la medición de nanoestructuras
ISO 11039 Análisis químico de superficies - Microscopía de sonda de barrido - Medición de la tasa de deriva
ISO 11952 Análisis químico de superficies. Microscopía de sonda de barrido. Determinación de cantidades geométricas mediante SPM: calibración de sistemas de medición.*, 2019-05-21 Actualizar
ISO 18115-2:2010 Analyse chimique des Surfaces — Vocabulaire — Partie 2: Termes utilisés en microscopie à sonde à balayage (Première édition)
ISO/TS 80004-4:2011 Nanotecnologías - Vocabulario - Parte 4: Materiales nanoestructurados
BS ISO 13095:2014 Historia
2014BS ISO 13095:2014 Análisis químico de superficies. Fuerza atómica microscópica. Procedimiento para la caracterización in situ del perfil del vástago de la sonda AFM utilizado para la medición de nanoestructuras